3505,高速测试仪测试仪
主要特点
C、 (tan δ), Q项目测试
能以恒定电压测量大容量的多层陶瓷电容
测试源频率: 1kHz, 100kHz, 1MHz,
高速测量: 2ms
高速测试仪测试仪
详细介绍
对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试
反复测量精度更高，最适合生产线
校正维修功能，减低由环境的温度变化影响
测量导线的过长引起的阻抗变化，阻抗补正功能
比较器的设定值和测定值的同步显示
2ms的高速测量；1kHz,1MHz 测量
根据BIN的测定区分容量
比测仪和触发器同步输出
输入用探头/测试夹具，实体不附带。按照测量目的，不同型号有不同的探头/测试夹具选件
基本参数
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测量参数
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C（电容）,D（损耗系数tanδ）, Q (1/tan δ)
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测量范围
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C:0.001fF～15.0000μF
D: 0.00001 ～ 1.99999
Q:0.0 ～ 19999.9
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基本精度
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（代表值）C: ±0.14% rdg. D: ±0.0013
※测定精度= 基本精度× B× C× D× E, B～E为各系数
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测量频率
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3505: 1kHz, 100kHz, 1MHz, 3506: 1kHz, 1MHz
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测量信号电平
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500mV, 1V rms
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输出电阻
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1Ω (在1kHz 时2.2 μF 以上量程, 在100 kHz 时22 nF 以上量程)
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显示
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LED(6位显示,满量程由点数有效距离来决定)
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测量时间
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代表值: 2.0 ms （FAST）
※测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同
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机能
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BIN分类测量, 触发同步输出, 测量条件记忆, 测量值比较功能, 平均值功能, Low-C拒绝功能,振动功能, 电流检测监视功能, 输出电压值监视功能, 控制用输入输出 (EXT. I/O), RS-232C接口, GP-IB接口
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电源
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AC 100/120/220/240V ±10%（可选择）, 50/60Hz, 最大40VA
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体积及重量
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260W × 100H × 298Dmm, 4.8kg
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附件
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电源线× 1, 电源备用保险丝× 1，使用说明书× 1
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